한국NI

PXI 기반의 반도체 자동화 측정 장비가 갖는 이점을 알리는 동시에, 고객에게 비용 효율적이면서 최적의 해답 제시

한국내쇼날인스트루먼트(이하 한국NI)는 이번 『SEMICON KOREA 2014』를 통해 반도체 개발부터 양산에 이르는, 전 단계에 걸친 자사의 측정·테스트 기술력을 홍보하는데 무게중심을 둔 전시를 진행했다.  
이번 전시기간 동안 NI의 기술력이 집약된 반도체 개발ㆍ검증ㆍ테스트ㆍ양산 솔루션 및 데모가 선보였는데, 특히 어느 곳에나 쉽게 설치할 수 있는 저 비용의 반도체 양산 테스트 장비(ATE)를 본사에서 정식으로 출시하기 전, 국내 일부 테스트 엔지니어에게 미리 공개함으로써, 관심을 집중시켰다.

개발비용 절감에 효과적인 시리얼 프로토콜 생성기 USB-8452

저 비용의 반도체 양산 테스트 장비(ATE) 일부 테스트 엔지니어에게 최초로 공개
이번 행사에서 최초로 공개된 모듈형 계측기인 PXI 기반의 NI 반도체 양산 테스트 장비(ATE)는 어느 곳에나 쉽게 설치 가능한 저비용의 NI 반도체 양산 테스트 장비(ATE)로서, 한국NI는 이 새로운 장비는 NI R&D 그룹의 3년 이상의 노력으로 만들어진 새로운 소프트웨어와 하드웨어를 통해, 반도체 테스트 양산에 필요한 모든 조건을 만족시킨다고 자신감을 표명하고 있다.
한국NI는 또 전시기간 중, 반도체 개발 검증을 위한 I2C / SPI 통신을 저렴하고 손쉽게 연결할 수 있는 시리얼 프로토콜 생성기 USB-8452에 대한 데모시연과 더불어 무료 세미나 신청을 받았다.
USB-8452는 I2C 및 SPI 디바이스에 연결하고 통신하기 위한 인터페이스로서, 핸드폰에 탑재되는 근조도 센서의 데이터를 바꿔서 LabVIEW로 전달한다.  반도체 개발 검증을 위한 I2C 마스터/슬레이브와 SPI 마스터 통신으로 구성되며, LabVIEW I2C, SPI, JTAG API가 무료로 제공된다. 간편한 USB로 연결되는 이 USB-8452는 개발비용 절감에 효과적인 시리얼 프로토콜 생성기다. 
또 이번 전시회에 소개된 PXIe-4139는 하나의 PXI 섀시에서 17채널을 구성할 수 있는 새로운 SMU로서, RFIC나 Driver, ADC, PMIC, LED, 배터리 개발 및 양산 테스트 등에 적용된다. LED 특성 검사 시 수 초 만에 천 번의 전압전류 테스트를 반복 수행하며, 펄스모드를 지원하는 것이 특징.

새로운 SMU, PXIe-4139

RFPA, Servoing Time=<5ms로 8백배 이상 단축 실현
또 RFPA(RF Power Amp Module 반도체 특성 평가)는 최근 한국NI에서 시장 확대에 기대를 하고 있는 테스트 장비로서, Multi-Band RF Power Amplifiers 및  RF Front End Module, RF Analog & SIP Device, RF Transceiver, RF Discrete Device 등의 디바이스 테스를 영역을 커버한다. 특히 FPGA를 사용함으로써, NI PXIe-5644R Vector Signal Transceiver를 통해 <5ms의 빠른 Servoing Time을 실현하는 것이 장점이다. 반도체 개발 및 양산단계 모두에서 요구가 확대되고 있다는 것이 한국NI 측의 설명.