㈜트윔의 김재현 박사가 AI 딥러닝 검사기를 활용한 제조산업 불량률 최소화 방안을 주제로 발표를 하고 있다.

트윔의 김재현 박사는 AI 딥러닝 검사기를 활용한 제조산업 불량률 최소화 방안을 주제로 발표를 진행했다.

김 박사는 딥러닝에 기반한 머신비전 검사방식은 기존 룰 기반의 머신비전 방식으로는 해결할 수 없는 까다로운 비정형 제품의 불량검사 등의 문제를 해결하는 차세대 방식이며, 딥러닝 비전검사는 양품/불량품 이미지에서 스스로 학습하여 추출한 특징에 기반해 지능적으로 불량 여부를 판단하기 때문에, 정해진 기준에 의해 판단하는 비전 검사의 한계점을 극복할 수 있다고 말했다.

이어 파우치 제품 검사와 금속 부품 검사, 이상탐지(Anomaly Detection) 등 인공지능 비전 검사 적용사례를 소개했다.

한편 전시부스에서는 AI 딥러닝 검사기와 딥러닝 기반의 인공지능 검사 소프트웨어에 초점을 맞춘 홍보를 진행했다.

AI 딥러닝 검사기 ‘T-MEGA’는 고해상도 카메라와 트윔이 자체개발한 인공지능 딥러닝 검사 소프트웨어인 MOAI 4.0과 룰 기반 머신비전을 탑재하여 제조부터 물류까지 비정형, 난반사 및 미세한 결함까지도 빠르고 정확하게 포착할 수 있느 품질검사의 통합 솔루션이다.

또 MOAI 4.0은 제조현장에서 생산된 다양한 제품을 육안으로만 검사하는 한계를 극복하고자 개발된 딥러닝 기반의 인공지능 검사 소프트웨어다. 불량검출률 99% 이상으로 인건비 절감 및 품질 향상 효과가 뛰어난 것이 특징이다.

트윔 전시부스