EtherCAT 테크놀로지 그룹(ETG)의 Technical Working Group (TWG) Semi가 19번째 회의를 가졌다. 온라인 미팅에서 이 실무 그룹은 반도체 업계를 위한 디바이스 프로파일을 개발하고, Safety over EtherCAT(FSoE)에 대한 주제로 의견을 나눴다. 또한, 자동화 디바이스 승인에서의 EtherCAT 적합성 테스트 툴(CTT) 통합이 주요 주제 중 하나였다.

EtherCAT 테크놀로지 그룹의 TWG Semi는 반기별 전체 회의와 여러 하위 실무 그룹들과의 회의를 진행한다. 이를 통해 반도체 어플리케이션에서 EtherCAT을 사용하기 위한 일련의 사양들이 개발될 수 있었으며, 반도체 산업에서 통신 표준의 성공에 크게 기여할 수 있었다. TWG Semi에 대한 업계 전반의 꾸준한 관심도 확인할 수 있었다. 가장 최근의 온라인 회의에는 70명이 넘는 참가자가 신청하였다. 참가자들은 여러가지 세션에 참가하여 기존의 EtherCAT 디바이스와 새로운 EtherCAT 디바이스 프로파일 작업에 전념했다.

디바이스 프로파일 작업 외에도, TWG Semi 회의에서는 엄선된 주제들이 논의됐다. 주요 주제 중 하나는 ETG 세이프티 전문가인 Guido Beckmann 박사가 설명한 Safety over EtherCAT (FSoE) 기술이었다. 이를 토대로, 반도체 제조 기계에서의 ‘툴’이라고 부르는 기능적 세이프티와 향후 개발될 툴 관련 디바이스 등에 대한 유스케이스들이 논의되었다. 2011년부터 ETG의 TWG Semi에서 일해온 Florian Essler는 다음과 같이 말했다. “오늘날, 우리는 EtherCAT과 관련하여 반도체 제조업체로부터 지속적이고 깊은 이해를 얻고 있습니다. 이 업계에 Safety over EtherCAT을 도입하면 EtherCAT의 또 다른 강력한 측면을 확인할 수 있습니다. 업계의 주요 기계 제조업체들이 기계에 기능적 세이프티를 통합한다면, EtherCAT을 통한 큰 발전을 이룰 수 있을 것입니다”. 또 다른 주요 주제 중 하나는 Safety over EtherCAT에 대한 테스트를 포함하여, 테스트 자동화 향상과 테스트 범위 확대에 기여하는 EtherCAT 적합성 테스트 툴의 향상된 기능들이었다.

지금까지 EtherCAT 테크놀로지 그룹의 TWG Semi는 반도체 업계를 위해, SDP(Specific Device Profile)라고 불리는 14개의 문서를 만들었다. 또한, 새로운 프로젝트들의 지속적인 개발을 위한 특정 디바이스 프로파일이 작성되는 방법, 구현 시 고려되어야 할 사항, 프로파일 정의에서 더 복잡한 질문을 처리하는 방법을 설명하는 내용들이 포함된 SDP Design Guideline에 해당하는 개요 문서도 있다.

TWG Semi의 다음 회의는 2021년 10월로 예정되어 있다. 모든 이벤트 정보는 www.ethercat.org/events를 통해 확인할 수 있다.