PXI Semiconductor Test Suite로 PXI 기능 확장

내쇼날인스트루먼트(웹사이트 ni.com/korea)는 혼합 신호 반도체 테스트를 위한 PXI의 기능을 확장하는 PXI 제품 10가지를 새로 선보인다. 소프트웨어로 정의되는 신제품들은 NI LabVIEW에 최적화되어 있으며 4개의 고속 디지털 I/O(HSDIO) 계측기, 2개의 디지털 스위치, 2개의 향상된 RF 계측기, 고정밀 SMU(Source Measure Unit), 특화된 디지털 벡터 반입 소프트웨어를 포함한다. 새로 출시된 NI PXI Semiconductor Suite은 200 MHz 싱글 엔드 디지털 I/O, 10 pA 전류 해상도, 신속한 멀티밴드 RF 측정, DC/디지털 스위칭 및Waveform Generation Language (WGL), IEEE 1450 Standard Test Interface Language (STIL) 파일 반입 기능 등 수많은 새 기능들을 통합한다.

PXI Semiconductor Suite은 ADC, DAC, 전원 관리 IC, 무선 IC, MEMS (Microelectromechanical System) 디바이스와 같은 일반 반도체 디바이스 테스트를 위한 PXI 기능 확장을 지속한다. 본 제품의 고급 기능으로 인해 반도체 디바이스의 특성화, 검증, 제조 테스트에 사용되는 기존 박스형 계측과 ATE 솔루션과 비교 시 보다 뛰어난 처리량과 유연성 그리고 빠른 개발 시간을 제공한다.

HSDIO 계측기의 NI PXIe-654x 제품군에는 최고 200 MHz의 싱글 엔드 클럭 속도와 최고 400 Mbps 데이터 속도를 제공하는 4개의 새로운 모듈을 포함하고 있어 고속 칩 디자인을 테스트하고 보다 빠른 맞춤 통신 프로토콜을 수용하는 것이 가능하다. 본 제품군의 고급 디지털 모듈은 양방향 통신, 리얼타임 비트 비교, 두 배의 데이터 속도 기능, 다른 I/O 라인에 대한 여러 타이밍 지연 그리고 22개의 다른 전압 레벨(1.2 ~ 3.3 V) 같은 여러 추가적인 기능들이 향상된 디지털 I/O 테스트 유연성을 위해 포함되어 있다. 이 같은 새 디지털 I/O 디바이스들은NI PXI-654x, PXI-655x 시리즈 고속 디지털 제품군들을 최고 200 MHz의 싱글엔드 및 LVDS 전압 기능을 가진 10개의 PXI 계측기로 확장한다.

새로운 NI PXI-4132 고정밀 SMU는 고해상도 전류 측정을 위해 10 pA까지 전류 민감도를 제공한다. 이 제품은 단일 출력에 원격 센싱과 외부 가딩(Guarding)을 제공하여 단일 PXI 슬롯에 최고 ±100 V 기능을 갖추고 있다. 그리고 SMU는 하드웨어 타임, 고속 곡선 추적을 위한 온보드 하드웨어 시퀀싱 엔진과 PXI 백플레인에 여러 PXI-4132 SMU를 트리거링하고 동기화하는 기능을 포함하고 있다. PXI-4132는 기존 PXI-4130 전력 SMU를 보완하여 4-구적 40 W 출력 (±20 V, ±2 A)을 제공하여 PXI를 위한 고정밀 및 고전력 소스 측정 옵션을 선보인다.