내쇼날인스트루먼트는 반도체 자동화 테스트에 특화된 PXI SMU 제품 라인을 출시한다고 발표했다.

다중 핀 반도체 DUT의 병렬 테스트에 최적화된 새로운 NI PXIe-4143 SMU는 초당 60,000개의 샘플과 4개 채널을 제공하며 (SMU 제품 중 최고의 채널 밀도), NI의 다채널 SMU 출력 범위를 150 mA에서 최대 24V까지 제공한다.

내쇼날인스트루먼트 반도체 테스트 담당 부사장인 Ron Wolfe는 “SMU 제품군에 NI PXIe-4143을 추가하면서 거의 모든 디바이스에 DC 측정 옵션을 제공할 수 있게 되었습니다. NI PXIe-4143이 제공하는 업계 최고 수준의 채널 수, 샘플 속도 및 직접 로드 변화를 조절할 수 있는 SourceAdapt 기술을 통해 가장 유연한 반도체 측정 계측기를 구현할 수 있습니다”라고 소감을 전했다.

제품 특징
- 빠른 순간 응답 측정 - 600 kS/s 샘플링 속도의 4개 SMU 채널.
- 소싱과 싱킹을 위해 기존 NI SMU 기능 보완 - 150 mA에서 24 V의 4-구적 출력 용량.
- 10 pA 측정 민감도.
- 소형 크기의 장비를 배포하는 데 용이한 PXI 모듈형 계측 아키텍처.
- NI PXIe-4143과 기타 SMU에 대한 자세한 정보는 ni.com/korea을 방문하여 확인할 수 있다.