- RF 및 혼합 신호 반도체 생산 테스트를 위해 개방형, 플랫폼 기반 방식으로 모듈형 계측기와 시스템 설계 소프트웨어를 통합하다

(발표지=뉴스와이어) NI는 오늘 NI 반도체 테스트 시스템(Semiconductor Test System) 시리즈를 출시했다.

PXI 기반 자동화 테스트 시스템은 반도체 생산 테스트 환경에서 NI PXI 모듈을 사용함으로써 RF 및 아날로그·디지털 혼합 신호 기기의 테스트 비용을 절감한다. 기존의 대형 반도체 자동화 시스템 장비(ATE)와는 달리, NI STS 사용자들은 반도체 개발 및 생산 파트에서 비용을 절감하고 효율성을 높일 수 있다.

Infineon Technologies의 차량 전장 및 전력 반도체 분야의 디자인 및 어플리케이션 엔지니어인 Hans-Peter Kreuter 박사는 “회로 집적화가 매우 빠른 속도로 일어나면서, 설계 검증 및 최종 생산 테스트 등 다양한 어플리케이션 분야에 테스트 커버리지를 제공하는 ATE의 중요성이 늘어나고 있는 추세이다. 혼합 신호 테스트에서 PXI기반 STS는 낮은 비용으로 테스트 커버리지 면에서 기존의 대형 ATE를 능가하였다.”고 설명했다.

개방형 모듈형의 STS는 엔지니어들이 기존의 폐쇄형 구조를 갖고 있는 ATE와는 달리 최첨단의 PXI 장비를 사용할 수 있게 해주었다. 이 점은 최신 반도체 기술들의 필요조건들이 기존의 ATE가 제공하는 테스트 범위를 벗어나기 때문에 RF와 혼합 신호 테스트에 특히 중요하다.

테스트 관리 소프트웨어인 TestStand와 시스템 설계 소프트웨어인 LabVIEW로 운영되는 STS는 사용자 환경에 맞춤 가능한 운영자 인터페이스, 관리자/ 탐색자 통합, 핀 채널 맵핑을 통한 기기 중심 프로그래밍, 표준 테스트 데이터 포맷(STDF) 보고와 내장된 다중멀티사이트 테스트 지원 등을 비롯한 반도체 생산 환경을 위한 다양한 장점들을 갖고 있다. 이러한 장점들은 엔지니어들이 신속한 테스트 프로그램 개발, 디버그 및 배치를 도와준다. STS는 완벽한 “ zero-footprint” 테스트 헤드와 표준 인터페이스 및 도킹 기술을 통해 반도체 생산 테스트 셀에 통합 될 수 있다.

Integrated Device Technology (IDT)의 테스트 디렉터인 Glen Peer은 “기존의 ATE 시스템들은 테스트 시스템들이 점차 새로운 테스트 조건을 만족시키지 못함에 따라 비용이 많이 드는 리툴링이 필요로 해졌지만 STS의 개방형 구조는 기존의 것들을 버리지 않고 유지할 수 있도록 도움을 주었다. 이것은 우리의 성능 사양에 맞춰 재설정하고 테스트 플랫폼을 확장시킬 수 있는 유동성을 갖추고 있다.”고 말했다.

STS 시리즈는 각각의 PXI 본체 1,2,4 에 맞는 세 가지 모델 T1, T2, T4로 이루어져 있다. 엔지니어들은 이제 STS 모델의 일반적인 소프트웨어, 장비, 상호 연결된 기계 및 다양한 크기의 본체를 활용하여 광범위한 핀 카운트와 사이트 카운트의 요구조건들을 충족시킬 수 있다. 또한, 그 확장성은 특성화부터 양산에도 적용 가능하게 하기 때문에 비용 절감과 함께 데이터 correlation도 상당히 줄여 time to market을 크게 줄일 수 있다.

NI 반도체 테스트 시스템에 대한 더 자세한 내용은 www.ni.com/sts에서 확인할 수 있다.

출처: 한국내쇼날인스트루먼트
홈페이지: ni.com/korea