『NIWeek 2014』현지 취재

NI, PXI 기반의 반도체 테스트 장비 출시

『NIWeek 2014』서 공식 첫 선, 기존 ATE 장비 대비 RF 및 아날로그/디지털 혼합 신호 기기의 테스트 비용 절감할 수 있어 

〔미국 오스틴, 최교식 기자〕

NI가 새롭게 출시한 PXI 기반의 반도체 테스트 장비

대표적인 PXI 기반의 계측기 업체인 NI가 PXI 기반의 계측기 포트폴리오를 양산용으로까지 확대했다.

NI는 미국 오스틴에서 열리고 있는 『NIWeek 2014』에서, 반도체 생산 테스트 환경에서 NI PXI 모듈을 사용함으로써 RF 및 아날로그/디지털 혼합 신호 기기의 테스트 비용을 절감할 수 있는 NI 반도체 테스트 시스템 (Semiconductor Test System) 시리즈를 공식 출시했다.

NI는 공식 출시 이전부터 업계 리드업체를 통해 이 STS에 대한 검증을 이미 끝낸 상태로, 이들 사옹자로부터 장비의 신뢰성에 대한 인정을 받았다.

현재 반도체 생산비용은 계속해서 줄어드는 반면, 테스트비용은 점차 올라가거나 보합세를 보이는 것이 시장의 상황으로, 이 NI ST는 PXI 기반으로 개발됨으로써, 기존의 대형 반도체 자동화 시스템 장비(ATE)와는 달리, 사용자들은 반도체 개발 및 생산 파트에서 비용을 절감하고 효율성을 높일 수 있다.

NI는 관계자는 작은 반도체 칩 하나하나 수백 가지 항목을 테스트할 때마다 프로그램하기가 어려운데, 이 NI 의 테스트 관리 소프트웨어인 TestStand와 시스템 설계 소프트웨어인 LabVIEW를 활용하면, 쉽게 프로그램이 가능하며, 특히 기존 ATE에 비해 엄청나게 낮은 비용으로 테스트 커버리지 면에서 기존의 대형 ATE를 능가한다고 강조했다.

사용자 환경에 맞춤 가능한 운영자 인터페이스 및 관리자/ 탐색자 통합, 핀 채널 맵핑을 통한 기기중심 프로그래밍, 표준 테스트 데이터 포맷(STDF) 보고와 내장된 다중멀티사이트 테스트 지원 등을 비롯한 반도체 생산 환경을 제공하는 것은 NI가 유일하다는 것이 NI측의 설명.

이 STS 시리즈는 각각의 PXI 본체 1, 2, 4 에 맞는 세 가지 모델 T1, T2, T4로 출시가 됐으며. 엔지니어들은 이제 STS 모델의 일반적인 소프트웨어, 장비, 상호 연결된 기계 및 다양한 크기의 본체를 활용하여 광범위한 핀 카운트와 사이트 카운트의 요구조건들을 충족시킬 수 있다. 특히 특성화부터 양산에도 적용이 가능하게 하기 때문에, 비용 절감과 함께 데이터 Correlation도 상당히 줄여 Time To Market을 크게 줄일 수 있다는 것이 장점이다.