가상 프로빙 제공하는 샘플링 오실로스코프 'WaveExpert 100H' 가상 프로빙 제공하는 샘플링 오실로스코프 'WaveExpert 100H'
관리자 2008-02-01 14:45:38

르크로이는 최근 새로운 샘플링 오실로스코프 `WaveExpert 100H`를 선보였다. WaveExpert 100H는 물리적으로 프로빙할 수 없는 신호들을 포착, 측정, 처리할 수 있는 최초의 샘플링 스코프로 2세대 PCI Express, Serial ATA, XAUI, 10G 이더넷 등 표준이 요구하는 긴 시리얼 데이터 패턴을 위한 분석과 컴플라이언스를 완벽하게 수행한다.
자료제공│르크로이코리아

르크로이는 최근 새로운 샘플링 오실로스코프 `WaveExpert 100H`를 선보였다. WaveExpert 100H는 물리적으로 프로빙할 수 없는 신호들을 포착, 측정, 처리할 수 있는 최초의 샘플링 스코프로 2세대 PCI Express, Serial ATA, XAUI, 10G 이더넷 등 표준이 요구하는 긴 시리얼 데이터 패턴을 위한 분석과 컴플라이언스를 완벽하게 수행한다.

WaveExpert는 4개의 광 모듈 또는 100GHz 주파수 대역을 지원하는 모듈을 사용할 수 있으며, 클럭 리커버리와 13.5 Gbps의 시리얼 패턴을 생성할 수 있다.

WaveExpert 100H는 SDA 옵션을 제공하여 신호와 채널 응답을 병합한 분석 툴 아이닥터(Eye Doctor)를 이용할 수 있다. 이를 사용하여 이퀄라이즈된 신호가 리시버에서 나타날 때 이를 관측하고 리시버의 내구성을 정확하게 측정할 수 있다.

WaveExpert 100H는 TDR 분석 소프트웨어를 기본 탑재하여 레퍼런스 plane 교정과 완전한 차동 2포트 s-파라메터 측정을 제공한다. 이 기능은 케이블, 커넥터, 백플레인, 기타 디바이스의 특성을 평가할 수 있도록 해준다. 측정된 s-파라메터는 Eye Doctor와 함께 사용해서 이퀄라이즈된 리시버의 스트레스 아이 패턴 분석과 측정을 수행한다. 지터, 파형분석, TDR/s-파라메터, 버추얼 프로빙, 그리고 이퀄라이저 에뮬레이션을 모두 제공하는 WaveExpert 100H는 시리얼 데이터 링크 디자인과 검증을 위한 완벽한 end-to-end 솔루션이자 신호 무결성 측정 장비이다.


물리적으로 불가능한 프로빙

리시버 입력은 보통 기존의 프로빙 방식으로는 불가능하다. 르크로이의 버추얼 프로빙(Virtual Probing, WaveExpert 100H SDA 옵션)은 리시버 입력시 스트레스 아이 패턴을 정확하게 측정할 수 있고 동시에 이퀄라이즈된 리시버 에뮬레이션은 리시버 이퀄라이제이션 이후의 신호를 `리시버의 아이`로 관측할 수 있다.

이와 관련 르크로이의 신호 무결성 제품군 마케팅 매니저인 마이클 슈네커는 `저렴한 비용으로 원하는 성능을 구현하기 위해 차세대 시리얼 표준 전송속도는 신호 무결성이 필요하다. 르크로이의 WaveExpert 100H는 실시간 샘플링 오실로스코프만이 가능한 분석 능력을 제공한다`고 말했다.

정확한 지터 분석과 긴 파형 포착

정확한 지터 측정을 위해서는 많은 양의 데이터가 필요하지만, 기존 시퀀스방식 샘플링 오실로스코프로는 포착할 수 있는 데이터 양에 한계가 있다. 이러한 샘플링 스코프는 적은 데이터 측정을 허용하는 스펙트럼 기반 방법을 사용하므로 크로스토크나 데이터 패턴과 관련없는 지터 소스에 영향을 받는 경우, 지터를 과대평가할 수 있다. WaveExpert 100H는 일관되게 높은 안정성을 제공하는 확장가능한 샘플링 타임베이스(HCIS: High Stability Coherent Interleaved Sampling Time Base)를 제공하여 기존 샘플링 스코프보다 긴 데이터 패턴에서 수백 배 빠른 포착 속도를 지원하고, 230 fs 의 지터 노이즈 플로어와 함께 자동 패턴 잠금을 제공한다. 아울러 혁신적인 Q-Scale 지터 분석을 사용하여 지터 소스에 관계없이 가장 정확한 측정이 가능하다.

아이 패턴 측정

아이 패턴은 시리얼 데이터의 신호 무결성 측정에서 자주 사용되고, 시리얼 데이터 신호의 타임 밸류와 주기적인 진폭 값을 보여준다. 아이 패턴에서는 그 깊이가 일정 시간 내에 일어나는 특정 진폭-타임 측정의 횟수로 정의될 수 있다. HCIS 타임베이스의 높은 출력량은 아이 패턴 분석에서 비트 에러율 테스트에 필적하는 전례없는 `깊이`를 제공하며, 드문 이벤트를 탐지하고 측정할 수 있다. 각 지점에서 더 많은 측정이 가능하므로 더 높은 통계 신뢰도를 제공하게 된다. 기존 샘플링 오실로스코프는 초당 40K의 샘플을 포착할 수 있다. WaveExpert의 빠르고 일관적인 타임베이스는 초당 2.5M의 샘플링을 포착하거나 60배 더 빠르다. 일례로 기존 샘플링 스코프는 10e-6 주파수에서 발생하는 파형 에러를 캡처하는 데 한시간 소요되지만, WaveExpert 의 HCIS 타임베이스를 사용하면 동일한 측정을 3분 내에 처리할 수 있다.

다양한 플러그인 어플리케이션

다양한 플러그인 방식의 샘플링 모듈이 어플리케이션 별로 제공된다. 광 모듈은 FibreChannel 부터 SONET/SDH의 표준을 지원하고 전기 모듈은 PCI Express, XAUI, SATA 등 각 표준의 전기신호 측정을 최대 100 GHz 대역폭으로 실행한다. CDR-E135 클럭 리커버리 모듈은 최대 13.5 Gb/s의 비트 속도로 HCIS 타임베이스의 레퍼런스 클럭을 제공한다. PPG-E135는 리시버 테스팅에 사용될 수 있는 차동 출력단을 가지고 있으며, 최대 13.5Gbps의 표준 PRBS 데이터 패턴을 발생시킬 수 있다.
<자료제공: 월간 반도체네트워크 2007년 09월호>

디지털여기에 news@yeogie.com <저작권자 @ 여기에. 무단전재 - 재배포금지>